XDL 系列 X 射線熒光測(cè)厚儀信息

德國(guó)菲希爾的 XDL 系列 X 射線熒光測(cè)厚儀，以其優(yōu)良技術(shù)和可靠性能，成為眾多行業(yè)質(zhì)量檢測(cè)的得力助手。XDL 系列中的 XDL 240，在鍍層厚度測(cè)量及材料分析方面表現(xiàn)優(yōu)。

XDL 240 運(yùn)用 X 射線熒光光譜法進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，其自動(dòng)聚焦功能可確保樣品完整性不受影響，同時(shí)保障測(cè)量的準(zhǔn)確性。在硬件性能上，它配備了移動(dòng)范圍≥95x150mm 的動(dòng) X/Y 平臺(tái)，可用工作臺(tái)面≥420x450mm，能輕松放置多樣品并進(jìn)行測(cè)量，且當(dāng)保護(hù)門(mén)開(kāi)啟時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到便于放置樣品的位置，極大方便了操作。電動(dòng) Z 軸支持手動(dòng) / 自動(dòng)聚焦，移動(dòng)范圍≥140mm，可適配不同高度的樣品，讓各類(lèi)樣品都能處于最佳測(cè)量位置。

該儀器采用測(cè)量距離補(bǔ)償法（DCM）這一創(chuàng)新技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn) 80mm 深度的腔體樣品遠(yuǎn)距離對(duì)焦測(cè)量，有效解決了深腔樣品測(cè)量這一行業(yè)難題。其可變高壓支持 30KV、40KV、50KV 三檔調(diào)節(jié)，用戶(hù)可依據(jù)不同的測(cè)試樣品和場(chǎng)景，靈活選擇合適的高壓，進(jìn)而獲得精準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果。標(biāo)配的 φ0.3 的圓形準(zhǔn)直器可提升測(cè)量精度，此外，還有 φ0.1mm、φ0.2mm 及長(zhǎng)方形 0.3mmx0.05mm 等多種準(zhǔn)直器可供選擇，滿足不同測(cè)量需求。X 射線探測(cè)器采用比例接收器，能穩(wěn)定接收信號(hào)，保證測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。內(nèi)置的高分辨率 CCD 攝像頭，放大倍數(shù) 40 - 160 倍，便于操作人員觀察定位樣品。沿初級(jí) X 射線光束方向可清晰觀察測(cè)量位置，配備的手動(dòng)聚焦、十字線（帶有經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的刻度和測(cè)量點(diǎn)尺寸）以及可調(diào)節(jié)亮度的 LED 照明，還有用于準(zhǔn)確定位樣品的激光光點(diǎn)，都使得操作人員能夠快速、準(zhǔn)確地放置和定位樣品，大幅提高了檢測(cè)效率 。