泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO定位:經濟型臺式 EDXRF,面向珠寶、貴金屬、錢幣、簡單鍍層的無損檢測。
原理:能量色散 X 射線熒光(EDXRF)+ 菲希爾基本參數法(FP),無需標準片即可分析固 / 液樣品與多層鍍層。
合規:符合 DIN ISO 3497、ASTM B568。
SURTRONIC DUO泰勒霍普森核心優勢
高性價比入門:兼顧精度與成本,適合貴金屬與簡單鍍層場景。
FP 法免標樣:無需標準片即可定量,降低使用門檻。
快速無損:15 秒出結果,不損傷樣品。
穩定可靠:長期穩定性好,減少校準頻率。
操作友好:可視化定位、一鍵測量、多語言軟件。
典型應用
貴金屬成分分析:金、銀、鉑、鈀、K 金、白金、牙科合金。
鍍層厚度測量:單 / 多層電鍍(如鍍金、鍍銠、鍍銀)。
珠寶、錢幣、首飾、貴金屬回收與質量控制。
蘇公網安備32021402002648