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貴金屬鍍層厚度測量

貴金屬鍍層厚度測量

簡要描述:
貴金屬鍍層厚度測量,Fischerscope X-ray。FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀。

更新時間:2023-03-21

訪問量:1247

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,生物產業,石油,制藥/生物制藥,綜合

貴金屬鍍層厚度測量

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀。它是從大眾認可的 FISCHERSCOPE X-RAYXDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似,它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。

比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了 Fischer 基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。可測量的元素范圍從氯 (17)到鈾(92)

XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器

XDL系列儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控

Fischer X射線測厚儀典型的應用領域有:

測量大規模生產的電鍍部件

測量薄鍍層,例如裝飾鉻

測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層全自動測量,如測量印刷線路板

分析電鍍溶液

貴金屬鍍層厚度測量

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