菲希爾X射線代理

菲希爾X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，多毛細孔X 射線光學系統設計，可自動測量和分析微小部件及結構上鍍層厚度和成分。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于無損分析和測量極微小部件上鍍層的厚度，即使是復雜的鍍層結構，也同樣應付自如。

菲希爾X射線測厚儀為了使每次測量都能在條件下進行，XDV-μ 配備了各種可電動切換的基本濾片。*的硅漂移接收器能夠達到很高的分析精度及探測靈敏度。由于采用了開創性的多毛細管 X 射線光學系統設計，本款儀器能在極其微小的測量面積上產生非常高的激發強度。

菲希爾X射線測厚儀出色的準確性及長期的穩定性是 FISCHER X 射線儀器的共有特點，因此也大大減少了重新校準儀器的需要，為您節省時間和精力。

菲希爾X射線測厚儀由于采用了 FISCHER 的基本參數法，無論是鍍層系統還是固體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。

菲希爾X射線測厚儀儀器可以選配一個大面積的工作臺，用以配合對大型印制電路板進行測量。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ 是一款界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺和馬達驅動的 Z 軸升降臺。側面開槽的設計，可測量面積更大的工件，如印制電路板等。當外保護面罩開啟時，樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。

通過激光點，可以快速對準需要測量的位置。儀器內置高分辨率彩色攝像頭，簡化了對測量點進行精確對位的過程。

所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM®軟件在電腦上完成。