SURTORNIC S116粗糙度儀泰勒

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無錫駿展儀器技術參數

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無錫駿展儀器數據顯示 ：

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無錫駿展儀器顯示屏每頁顯示7個測試結果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）

可以打印測試結果和圖形

使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結果

數據存儲

儀器可以存儲100個測試數據和一個圖形

儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結果，共70批數據。

使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數據。

電源：

充電器

USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充電時間

4小時

電池壽命

充電一次可以做2000次測試

待機時間

5000小時,由待機狀態到開機測試狀態，zui長時間不超過1秒I

自動關機

30秒– 6小時可以自行設置

技術指標

測量范圍

400 um 100 um 10 um

分辨率

50 nm 20 nm 5 nm

底噪(Ra

150 nm 100 nm 50 nm

重復精度 (Ra)

1%測試值+底噪

傳感器原

電感

測量力

50-300mg

測針針尖半徑

標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測試方式

滑動掃描

自動軟件校準

標準：ISO4287

測試參數

三個取樣長度

0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個濾波器

2CR、Gaussian

評定長度

0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

zui大行程

17.5mm

測試速度

測試速度

1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度

1.5mm/sec(0.06in/sec)

執行標準

ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標準可以測量12個參數

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標準可以測量11個參數

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

ASME標準可以測量12個參數

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

ASME標準可以測量13個參數

R3z (Daimler Benz)

ASME標準可以測量14個參數

um/uin